ABSTRAK Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati COVER Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati BAB 1 Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati BAB 2 Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati BAB 3 Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati BAB 4 Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati BAB 5 Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati PUSTAKA Indris Sarihon Sianturi
PUBLIC Yati Rochayati
Penelitian ini mempelajari pengaruh konsentrasi doping atom karbon (C) terhadap
properti optik dan listrik film tipis molibdenum disulfida (MoS2). Sintesis film tipis
menggunakan metode DC Unbalanced Magnetron Sputtering (DC-UBMS) pada
substrat n-Si (100) pada suhu kamar. Scanning Electron Microscopy (SEM)
mengkarakterisasi struktur morfologi film tipis menunjukkan perluasan permukaan
flake film tipis pada MoS2 doping C yang diindikasikan dari transisi flake yang
teraglomerasi menjadi lembaran-lembaran flake yang lebar. Spektrum XRD
menunjukkan bahwa doping atom C meningkatkan derajat kristalisasi MoS2
heksagonal (2H-MoS2) dengan memperlebar jarak antar lapisan MoS2 dari 5,93 Å
menjadi 6,13 Å. Hal ini mengindikasikan atom C terdoping di antara lapisan MoS2
yang memperbaiki defek kristal (distorsi kisi) sehingga jarak interlayer 2H-MoS2
menurun. Perbaikan kualitas kristal MoS2 doping C didukung dengan peningkatan
ukuran kristalit dan penurunan kerapatan dislokasi. Spektroskopi Raman
mengarakterisasi komposisi ikatan kimia pada struktur berlapis 2H-MoS2, didapati
keberadaan Amorphous Carbon Layer (ACL) yang mengindikasikan adanya
doping interstitial karbon pada struktur interlayer MoS2 serta terdapat ikatan atom
oksigen dengan Mo membentuk ikatan molekul molibdenum triosida (MoO3).
Spektroskopi fotoluminesensi melaporkan pengurangan defek kristal berupa
vakansi sulfur setelah MoS2 didoping C. Pasifnya vakansi sulfur meningkatkan
properti optik dengan memperluas energi band gap optik serta meningkatkan
penyerapan foton pada panjang gelombang cahaya tampak yang didukung oleh
kehadiran pita-pita eksiton eksiton A, eksiton B, trion, dan bieksiton. Uji I-V
digunakan untuk mengarakterisasi properti listrik serta mengevaluasi kinerja
fotodetektor Metal-Semikonduktor-Metal (MSM) MoS2 doping C pada area cahaya
tampak. MoS2 doping C meningkatkan responsivitas, specific detectivity, External
Quantum Efficiency (EQE), dan mengurangi Schottky Barrier Height (SBH) dari
0,40 eV menjadi 0,20 eV. Film tipis MoS2 doping karbon secara signifikan
meningkatkan kinerja fotodetektor logam-semikonduktor-logam (MSM) dengan
memasifkan vakansi sulfur dan memperkuat mobilitas carrier melalui kehadiran
bieksiton. Fungsionalisasi doping atom C pada film tipis MoS2 merupakan strategi
menjanjikan untuk aplikasi perangkat fotodetektor cahaya tampak di masa depan.