Perpustakaan Digital ITB

Karakteristik optik dan struktur dari zinc oxide thin film yang dibuat dengan metode self assembled monolayers (SAMs) telah dipelajari. Zinc oxide thin film ini dibuat di atas substrat pada kondisi yang berbeda yang meliputi waktu perendaman dan temperatur annealing. Mikrostruktur dan sifat optik ZnO diamati dengan karakterisasi menggunakan X-ray diffraction, scanning electron microscope pada permukaan dan penampang melintang, serta UV-visible spectrophotometer. Pengaruh perubahan waktu perendaman dari 10 jam hingga 12 jam telah diteliti. Transmitansi berkurang seiring dengan lamanya waktu pencelupan karena thin film yang dihasilkan semakin tebal. Transmitansi hingga mencapai 89% pada daerah cahaya tampak diperoleh pada kondisi optimum. Berdasarkan hasil XRD, thin film yang dihasilkan memiliki struktur polikristalin yang mana terdapat tiga puncak tertinggi yaitu pada orientasi (100), (002), dan (101). Dapat diamati bahwa pertumbuhan thin film terjadi berdasarkan mode pertumbuhan mixed growth (stranski-Krastanov). Tingkat densifikasi yang besar terjadi ketika sampel di-anneal pada temperatur yang lebih tinggi.