Perpustakaan Digital ITB

ruang pada sistem standar tegangan dc mempengaruhi stabilitas tegangan dc yang tentunya mempengaruhi akurasi dan ketidakpastian nilai standar tersebut. Dengan demikian karakterisasi noise dari sistem standar tegangan dc serta karakterisasi temperatur dari sel standar elektronik dc sangat diperlukan dalam optimasi perencanaan dari sistem standar tegangan dc yang akurat dan stabil. Penelitian ini bertujuan untuk dapat mengurai atau mengidentifikasi karakteristik noise dan mengetahui level noise pada frekuensi rendah dari sistem standar tegangan dc, dengan menggunakan metode statistik variansi Allan dua-sample (dalam domain waktu) dan analisis power spectral density (dalam domain frekuensi). Selain itu untuk mengetahui karakteristik tegangan keluaran fungsi temperatur dari sel standar elektronik dc. Telah dilakukan karakterisasi noise terhadap sistem standar tegangan dc yang terdiri dari sel standar dc, scanner, nanovoltmeter, serta perkawatannya dengan metoda statistik variansi Allan dua-sample dan power spectral density (fast fourier transform). Dari hasil analisis (karakterisasi) diperoleh bahwa sel standar elektronik dc (22, 24 nV) mempunyai noise floor yang lebih tinggi dibanding dengan sel standar dc kimia I sel Weston (8,04 nV). Untuk karakterisasi tegangan keluaran fungsi temperatur set standar elektronik Cropico 1,018 volt digunakan pengontrol temperatur thermo element untuk mengatur temperatur box aluminium luar set standar dari 20 sampai dengan 34 °C. Karakteristik temperatur sel standar elektronik dc diperoleh dengan persamaan ketergantungan tegangan terhadap temperatur: VO1 r = 1,018 803 25 V + (0,425.T – 0,0295.T2) µV, dengan kesalahan curve fitting n,aksimum 0,65 µV. Dari basil analisis noise pengaruh temperatur, diperoleh kondisi level noise floor rendah pada saat temperatur box mendekati homogen. Kata Kunci: standar tegangan dc, noise, temperatur, variansi Allan dua-sample, power spectral density.