Kehadiran keadaan cacat (defect states) pada sel surya perovskit dapat
mempengaruhi performa dan stabilitasnya. Keadaan cacat (defect states) pada sel
surya perovskit muncul akibat proses kristalisasi perovskit yang cepat dan pada
temperatur rendah. Selain itu, kristal perovskit didominasi oleh ikatan ionik yang
cukup lemah dibandingkan ikatan kovalen yang ada di sel surya silikon,
menyebabkan kemungkinan munculnya berbagai jenis cacat kristal seperti
kekosongan (vacancy), intertitial defects, lattice distortion by accumulated charges
dan dissolves impurities. Berbagai jenis cacat ini membetuk deep dan shallow trap
yang dapat mempengaruhi performa sel surya, sehingga diperlukan pemahaman
mekanisme dan sejauh mana cacat ini mempengaruhi performa sel surya.
Pada penelitian ini, sel surya perovskit dibuat dengan struktur mesoskopik yang
terdiri atas lapisan FTO/(TiO2 compact) c-TiO2/TiO2 mesopori (mpTiO2)/MAPbI3/PTAA/Emas (Au). Penelitian ini bertujuan mengamati kinetika
pengangkutan dan ekstraksi pembawa muatan melalui pengukuran transient
photovoltage (TPV), untuk melihat korelasi antara proses elektronik, yang dapat
dipengaruhi oleh keadaan cacat yang disebabkan oleh karakteristik struktur
mesoskopik dari lapisan perovskit, dan kinerja sel surya perovskit. Selain itu, juga
dilakukan kajian korelasi kinerja sel surya dan karakteristik impedansi yang
diperoleh dari pengukuran intensity modulated photovoltage spectrsocopy (IMVS),
yang bertujuan memahami dampak kinetika pembawa muatan dan gerakan ionik,
karena keadaan cacat permukaan atau antarmuka dari lapisan perovskit, pada
kinerja sel. Berdasarkan penelitian yang telah dilakukan, diperoleh hasil bahwa
karakteristik kurva TPV menunjukkan karakter yang berbeda beberapa sel hasil
fabrikasi. Kurva TPV yang diamati terdiri atas bagian kurva naik (rise part) dan
bagian kurva meluruh. Bagian kurva naik terkait dengan proses transpor muatan
sedangkan bagian kurva meluruh (decay part) terkait dengan proses rekombinasi di
antarmuka lapisan perovskit dengan lapisan transpor. Bagian kurva meluruh yang
memanjang mengindikasikan kehadiran keadaan permukaan yang lebih banyak di
lapisan perovskit/transpor yang menyebabkan terjadinya trapping detrapping
elektron. Sehingga elektron membutuhkan waktu yang lebih panjang untuk
mencapai pita valensi lapisan perovskit.
Dari pengukuran TPV ini juga ditemukan bahwa kurva peluruhan merupakan
peluruhan multiexponential yang terdiri atas peluruhan cepat, peluruhan sedang dan
peluruhan lambat. Peluruhan cepat dengan karakteristik stretched exponential
decay mengindikasikan adanya proses trapping dan rekombinasi orde pertama yang
tidak sederhana yang melibatkan multi trapping process termasuk transpor elektron
di permukaan bulir kristal atau antarmuka. Peluruhan cepat ini juga terkait dengan
relaksasi cacat permukaan struktural, dimana peluruhan cepat ini berkorelasi
dengan kemunculan setengah lingkaran di daerah frekuensi rendah plot Nyquist
penngukuran IMVS yang terkait migrasi atau perpindahan ion. Pada penelitian ini
juga digunakan molekul pasifasi TFA untuk mengurangi efek cacat kristal yang
terjadi selama pembuatan, penyimpanan maupun ketika sel beroperasi. Hasilnya
menunjukkan bahwa sel dengan TFA 5% memiliki rapat trap paling sedikit
dibanding sel lain. Selain itu, pengukuran efisiensi sel pada hari keempat setelah
fabrikasi menunjukkan bahwa sel dengan TFA mempunyai stabilitas performa yang
lebih baik dibandingkan sel tanpa TFA. Hasil ini menunjukkan bahwa molekul
pasifasi TFA berpotensi menjadi salah satu kandidat molekul yang dapat digunakan
untuk mengurangi efek keadaan cacat pada sel surya perovskit.