Perpustakaan Digital ITB

Advanced Search

SISTEM C-V METER BERBASIS SoC C8051F350 UNTUK KARAKTERISASI C-V PADA DIODA

3 views

Penulis	:	ASEP SUHENDI (20205016)
Kontributor / Dosen Pembimbing	:	Pembimbing : Dr. Eng. Khairurrijal, M. Si. dan Dr. Eng. Mikrajuddin Abdullah
Jenis Koleksi	:	Tesis
Tahun Terbit	:
Penerbit	:
Fakultas	:
Subjek	:
Kata Kunci	:	C-V, Divais semikonduktor, Metode balikan muatan
Sumber	:
Staf Input/Edit	:	Rizki Aprianti Ena Sukmana
File	:	7 file
Tanggal Input	:	27 Sep 2017

2008 TS PP ASEP SUHENDI 1-COVER.pdf

PUBLIC Open In Flip Book Ena Sukmana

2008 TS PP ASEP SUHENDI 1-BAB1.pdf

PUBLIC Open In Flip Book Ena Sukmana

2008 TS PP ASEP SUHENDI 1-BAB2.pdf

PUBLIC Open In Flip Book Ena Sukmana

2008 TS PP ASEP SUHENDI 1-BAB3.pdf

PUBLIC Open In Flip Book Ena Sukmana

2008 TS PP ASEP SUHENDI 1-BAB4.pdf

PUBLIC Open In Flip Book Ena Sukmana

2008 TS PP ASEP SUHENDI 1-BAB5.pdf

PUBLIC Open In Flip Book Ena Sukmana

2008 TS PP ASEP SUHENDI 1-PUSTAKA.pdf

PUBLIC Open In Flip Book Ena Sukmana

C-V Meter banyak digunakan pada penelitian struktur dan sifat bahan semikonduktor. Telah dirancang dan diimplementasikan sebuah sistem C-V Meter dan digunakan untuk mengukur karakterisasi C-V pada dioda. Sistem menggunakan metode pengukuran kuasi-statik dan menggunakan penguat balikan muatan untuk mengukur kapasitansi. Pembuatan sistem C-V Meter meliputi pembuatan sumber tegangan, sumber step dan pengukur kapasitansi. Sistem terdiri atas SoC berbasis MCS-51, pengukur kapasitansi dengan penguat balikan muatan, rangkaian nilai mutlak, ADC (Analog to Digital Converter) 14 bit, dan sumber tegangan menggunakan DAC arus (Current Digital to Analog Converter) 8 bit, sumber tegangan step, penguat penjumlah dan pembatas arus. Sistem dirancanguntuk mengukur dan menampilkan hasil pengukuran pada komputer melalui port komunikasi serial RS-232. Sistem C-V Meter dikalibrasi pada setiap bagiannya dan diuji untuk mengukur karakterisasi C-V pada kapasitor dan dioda.