Perpustakaan Digital ITB
2009 TS PP RISKA EKAWITA 1-COVER.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP RISKA EKAWITA 1-BAB 1.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP RISKA EKAWITA 1-BAB 2.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP RISKA EKAWITA 1-BAB 3.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP RISKA EKAWITA 1-BAB 4.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP RISKA EKAWITA 1-BAB 5.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP RISKA EKAWITA 1-PUSTAKA.pdf
File tidak tersedia
Resistivitas merupakan salah satu parameter penting untuk diketahui dalam mendesain suatu divais. Salah satu metode yang sering digunakan dalam menentukan resistivitas bahan adalah metode four-point probe. Metode ini menggunakan empat probe dengan dua probe terluar sebagai sumber arus dan dua probe lainnya sebagai pengukur tegangan. Pada tesis ini dirancang sistem pengukur resistivitas berbasis LOG112 dan SoC C8051F006. LOG112 merupakan chip konverter arus ke tegangan. SoC C8051F006 dari Silicon Laboratories mengatur seluruh kerja sistem pengukur, yang terdiri dari ADC 12 bit, DAC 12 bit dan LOG112. Masing-masing bagian sistem pengukur dilakukan kalibrasi menggunakan multimeter Fluke 45. Resistor dan bahan tipis dijadikan sampel untuk menguji sistem pengukur. Hasil pengukuran berupa data arus dan tegangan dikirim melalui komunikasi RS232 ke PC dan ditampilkan menggunakan perangkat lunak Delphi 7 dalam grafik arus dan tegangan.