2009 TA PP INDRA WAHYUDHIN FATHONA 1-COVER.pdf
2009 TA PP INDRA WAHYUDHIN FATHONA 1-BAB 1.pdf
2009 TA PP INDRA WAHYUDHIN FATHONA 1-BAB 2.pdf
2009 TA PP INDRA WAHYUDHIN FATHONA 1-BAB 3.pdf
2009 TA PP INDRA WAHYUDHIN FATHONA 1-BAB 4.pdf
2009 TA PP INDRA WAHYUDHIN FATHONA 1-BAB 5.pdf
2009 TA PP INDRA WAHYUDHIN FATHONA 1-PUSTAKA.pdf
Sistem pengukuran kurva histeresis ferroelektrik dibuat untuk mengamati kurva histeresis pada bahan ferroelektrik. Pada sistem ini digunakan rangkaian Sawyer-Tower yang terdiri dari kapasitor linier dan kapasitor sampel untuk mengukur polarisasi pada bahan ferroelektrik dalam kapasitor sampel tersebut dan mikrokontroler berjenis C8051F005 (System on Chip). Hasil pengukuran rangkaian Sawyer-Tower terhadap kapasitor ferroelektrik berbahan PZT (Plumbum, Zirconium, Titanium) dibandingkan dengan hasil pengukuran pada sampel yang sama oleh alat karakterisasi ferroelektrik Radian Rt66A telah dilakukan, hal ini bertujuan untuk menguji keakuratan pengukuran oleh Sawyer-Tower yang dibangun. Kurva histeresis hasil pengukuran oleh rangkaian Sawyer-Tower ditampilkan pada osiloskop dengan mode X-Y, untuk lebih lanjutnya hasil pengukuran akan ditampilkan pada komputer dengan Graphic User Interface Delphi agar lebih efektif dan mudah . Beberapa sampel kapasitor berbahan PZT dengan ukuran lebar penampang dan jarak antar dua plat berbeda satu sama lain telah dijadikan sebagai bahan uji dalam pengujian rangkaian Sawyer-Tower.