Gallium Nitride (GaN) merupakan semikonduktor dengan celah-pita energi
yang lebar dan langsung. Penelitian Rare Earth (RE) dalam Gallium Nitride
(GaN) sangat menarik terkait dengan pemanfaatannya dalam pengembangan
perangkat optoelectronics. Dilakukan perhitungan struktur elektronik doping
GaN dengan ion RE3+ berdasarkan teori fungsional kerapatan (Density
Functional Theory-DFT). Digunakan model supersel struktur wurtzite GaN
menggunakan paket program PHASE/0. Hasil yang diperoleh menunjukkan
adanya kestabilan struktur ion RE dalam GaN. Optimasi RE:GaN merelaksasi
panjang ikatan RE-N yang bervariasi antara 2:141A hingga 2:253A dan
hasil ini bersesuaian dengan perhitungan teoritik lain serta data eksperimen
EXAFS. Penambahan konsentrasi dopan RE (dalam hal ini Er) dalam GaN,
mengakibatkan penambahan pergeseran batas level energi dan mempersempit
celah pita energi. Model yang digunakan mampu mendeskripsikan keadaan
impuritas ion RE dalam GaN. Doping RE dalam GaN diprediksikan mampu
mempersempit celah pita energi dan membantu kinerja optik pada GaN. Hasil
ini mengkonrmasi kesesuaian dengan studi teoritik sebelumnya.