Perpustakaan Digital ITB
2009 TS PP ENDAH RAHMAWATI 1-COVER.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP ENDAH RAHMAWATI 1-BAB 1.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP ENDAH RAHMAWATI 1-BAB 2.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP ENDAH RAHMAWATI 1-BAB 3.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP ENDAH RAHMAWATI 1-BAB 4.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP ENDAH RAHMAWATI 1-BAB 5.pdf
File tidak tersedia
2009 TS PP ENDAH RAHMAWATI 1-PUSTAKA.pdf
File tidak tersedia
Meter C-V berfungsi untuk mengukur karakteristik kapasitansi terhadap tegangan panjar yang diberikan pada divais yang akan diukur. Beberapa properti karakteristik semikonduktor yang dapat diturunkan dari karakteristik C-V antara lain adalah jumlah muatan pembawa dan lebar lapisan deplesi. Metode pengukuran kapasitansi menggunakan metode balikan muatan. Sistem meter C-V terdiri atas (i) pengukur kapasitansi dan pengkodisi sinyal, (ii) SoC C8051F006, (iii) DAC (digital to analog converter), (iv) ADC (analog to digital converter). Tegangan keluaran ADC selanjutnya dikirim melalui komunikasi serial RS 232 ke komputer. Sistem Meter C-V dikalibrasi menggunakan multimeter model 45 dari Fluke Corporation. Hasil pengujian DAC dan ADC menunjukkan galat masing-masing sebesar 0.003volt untuk DAC dan 0016 volt utuk ADC. Telah dilakukan pengukuran karakteristik C-V menggunakan Meter C-V untuk kapasitor 1nF tipe MKT, dioda 1N4002, 1N4148, dan FR104.